또난을 일으킬 수 있는 쓸만한 자극 위험 평가한 연구

뇌의 쓸만한 부위를 자극하는 것이 발작을 유발할 수 있는 위험성을 연구한 결과, 낮은 자극 전류라도 전기활성 발작을 유발할 수 있다는 것을 밝혀냈다. 이 연구는 뇌의 피질하부와 연관된 영역을 자극하는 경우 발작 위험이 있는지를 조사한 것으로, 이는 신경학 및 신경과학 분야에 중요한 영향을 미칠 것으로 보인다. 이러한 연구 결과는 뇌의 특정 부위를 대상으로 치료를 시도하는 의료 기술에서 발작을 일으킬 가능성을 고려해야 함을 시사한다.
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출처: MIT News
요약번역: 미주투데이 최은우 기자